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Technologie de RHK - mars 2010 tasse de café d'IOM
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Technologie de RHK - mars 2010 tasse de café d'IOM
La mesure de sonde de Kelvin sur le graphene s'est exfoliée sur SrTiO3 (titanate de strontium) obtenu en mode de non contact d'AFM utilisant un déplacement de fréquence de -5 hertz. Le graphene a été irradié avec du xénon 23+ ions sous l'incidence rasante de 6°. Sur la couche unitaire l'impact des ions mènent au pliage caractéristique. Dans la Polarisation-Image le substrat fondamental exposé dans ce secteur peut être clairement vu.
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1 Commentaires
Avis sur des produits similaires
5 sur 5 étoiles
Par B.2 mai 2022 • Achat sécurisé
Tasse blanche classique, 325 ml
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Très sympa, ma fille a adoré. Le modèle est existant. Je n'ai rien ajouté. J'espère que le texte résistera au lave-vaisselle.
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Identification produit : 168451155472888475
Créé le : 08/09/2010 11:50
Note : G
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